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    THICK8000膜厚測試儀

    更新時間:2020-04-13

    簡要描述:

    THICK8000膜厚測試儀
    1.精密的三維移動平臺
    2.的樣品觀測系統(tǒng)
    3.*的圖像識別
    4.輕松實現深槽樣品的檢測
    5.四種微孔聚焦準直器,自動切換
    6.雙重保護措施,實現無縫防撞
    7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度

    Thick 8000膜厚測試儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。

     

    thick8000.jpg

     

    Thick8000膜厚測試儀性能優(yōu)勢

     

    1.精密的三維移動平臺
    2.的樣品觀測系統(tǒng)
    3.*的圖像識別
    4.輕松實現深槽樣品的檢測
    5.四種微孔聚焦準直器,自動切換
    6.雙重保護措施,實現無縫防撞
    7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度

    全自動智能控制方式,一鍵式操作!
    開機自動自檢、復位;
    開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣;
    關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦;
    直接點擊全景或局部景圖像選取測試點;
    點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結果。

     

    Thick8000膜厚測試儀技術指標

     

    分析元素范圍:硫(S)~鈾(U
    同時檢測元素:zui多24個元素,多達5層鍍層
    檢出限:可達2ppm,zui薄可測試0.005μm
    分析含量:一般為2ppm99.9%
    鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)
    重復性:可達0.1%
    穩(wěn)定性:可達0.1%
    SDD
    探測器:分辨率低至135eV
    *的微孔準直技術:zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm
    樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
    準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四種準直器組合
    儀器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm
    樣品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm
    樣品臺尺寸:393Wx 258 Dmm
    X/Y/Z
    平臺移動速度:額定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s
    X/Y/Z
    平臺重復定位精度:小于0.1um
    操作環(huán)境濕度:≤90%
    操作環(huán)境溫度:15℃~30

     

    Thick8000膜厚測試儀應用領域

     

    膜厚測試儀廣泛應用于PCB板企業(yè)、電子企業(yè)、五金企業(yè)、印制電路企業(yè)、半導體芯企業(yè)、框架和連接器企業(yè)、金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

     

    Thick8000膜厚測試儀部分產品

     

     X射線熒光測厚儀,X射線鍍層測厚儀,x光鍍層測厚儀, 國產鍍層測厚儀,X熒光鍍層測厚儀廠家,國產X熒光鍍層測厚儀,x光鍍層測厚儀,X射線鍍層測厚儀價格,天瑞鍍層測厚儀, XRF鍍層測厚儀,國產電鍍層測厚儀,X熒光鍍層測厚儀,電鍍層測厚儀,x射線熒光鍍層測厚儀, x熒光鍍層測厚儀價格,金屬鍍層測厚儀,X熒光電鍍層測厚儀,鍍層膜厚測試儀,無損金屬鍍層測厚儀,thick8000膜厚測試儀,X光電鍍層測厚儀,X熒光鍍層測厚儀品牌,x-ray鍍層測厚儀,X射線金屬鍍層測厚儀,x射線電鍍層測厚儀,電鍍鍍層測厚儀,國產X射線鍍層測厚儀,xrf鍍層膜厚測試儀,X熒光鍍層膜厚儀,X射線鍍層膜厚儀。

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