XRF鍍層膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品介紹

XRF鍍層膜厚測(cè)試儀是一款通過X射線原理快速、無損測(cè)試鍍層膜厚的儀器，主要應(yīng)用于金屬鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銀……）膜厚的檢測(cè)儀，天瑞儀器是國(guó)內(nèi)早研發(fā)生產(chǎn)XRF系列產(chǎn)品的廠家，XRF鍍層膜厚測(cè)試儀也是打破了國(guó)外壟斷的局面，讓客戶以的價(jià)格買到性價(jià)比的儀器，為企業(yè)降低采購(gòu)成本的同時(shí)，也為國(guó)產(chǎn)儀器的發(fā)展做出了微薄的貢獻(xiàn)。

xrf鍍層膜厚測(cè)試儀性能特點(diǎn)

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

xrf鍍層膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔，滿足大樣品測(cè)試
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)（可以保存和實(shí)時(shí)打?。?/span>

xrf鍍層膜厚測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
型號(hào)：Thick 800A XRF鍍層膜厚測(cè)試儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg